Aehr Test Systems Aktie

 
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Intraday
-11,08 %
1 Woche
29,23 %
1 Monat
348,04 %
Seit Jahresbeginn
234,42 %
1 Jahr
102,73 %
3 Jahre
1.102,93 %
5 Jahre
4.030,59 %
10 Jahre

Webinar zu Aehr Test Systems

Die meisten reden über ihre Performance, wenn sie feststeht. Rene Berteit macht es umgekehrt: Er legt sein Ziel vorher offen und lässt sich anschließend daran messen. Ab Anfang Oktober startet in stock3 Select ein neues Format, das Projektdepot. Ein Depot mit fester Laufzeit von sechs Monaten und einem einzigen, klar definierten Ziel: eine bessere Wertentwicklung als der DAX. Danach wird abgerechnet, mit allem, was dazugehört, also auch mit den Phasen, die nicht gut gelaufen sind. Im Börsen-Talk sprechen Rene Berteit und Harald Weygand über genau dieses Vorhaben. Harald Weygand moderiert und fragt nach: nach der Strategie, nach den Risiken und nach dem, was passiert, wenn der Markt anders läuft als gedacht. Damit Du in Zukunft kein Börsen-Talk Event mehr verpasst, erhältst Du mit der Anmeldung zu dieser Reihe ab sofort automatisch eine Einladung zu allen kommenden Börsen-Talk-Webinaren.

  • Datum
    02.09.2026
  • Uhrzeit
    12:00 - 13:00 Uhr
  • Veranstalter
    stock3 Avatarstock3
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Kursinformationen (Nasdaq)

  • Tagestief / Hoch ($)
    -
  • 52W-Tief / Hoch ($)
    18,700-147,400
  • Jahrestief / Hoch ($)
    20,985-147,400
  • Schlusskurs (Vortag)
  • Eröffnungskurs
  • Volumen Intraday

Wichtigste Eigenschaften

  • WKN908802Kopiert
  • ISINUS00760J1088Kopiert
  • TickerAEHR
  • AnlageklasseAktie
  • LandUSA Flagge USA
  • BrancheHalbleiter
  • SektorTechnologie
  • Index-Zugehörigkeit
  • Anzahl Aktien30,67 Mio.
  • Marktkapitalisierung2,77 Mrd. $

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Im Durchschnitt erleiden 7 von 10 Kleinanlegern Verluste beim Handel mit Turbo-Zertifikaten. Turbo-Zertifikate sind hoch risikoreiche Produkte und nicht für langfristige Anlagestrategien geeignet.

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Termine von Aehr Test Systems

Keine aktuellen Termine

Beschreibung

Aehr Test Systems, founded in 1977 and based in Fremont, California, specializes in the global provision of advanced burn-in and test systems for integrated circuits, encompassing logic, optical, and memory devices. Its extensive product lineup includes the ABTS and FOX-P families of test and burn-in solutions, complemented by specialized components such as the FOX WaferPak Aligner, FOX-XP WaferPak Contactor, FOX DiePak Carrier, and FOX DiePak Loader. The ABTS system is specifically designed for both production and qualification assessments of packaged parts, covering a range of lower and higher power logic devices, as well as various memory types. For more complex integrated circuits like memories, digital signal processors, microprocessors, microcontrollers, systems-on-a-chip, and integrated optical devices, the FOX-XP and FOX-NP systems facilitate burn-in and functional testing at both the wafer and individual die/module levels. Aehr's FOX-CP system offers a compact, single-wafer solution for verifying the reliability of logic, memory, and photonic devices. A distinguishing offering, the WaferPak Contactor, features an exclusive full-wafer probe card, accommodating wafers up to 300mm, which enables semiconductor manufacturers to conduct comprehensive wafer-level testing and burn-in on Aehr's FOX platforms. Furthermore, the DiePak Carrier provides a reusable, temporary packaging medium, empowering IC manufacturers to complete final testing and burn-in processes for bare die and modules.